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歷時(shí)6年的研發(fā)，荷蘭飛納公司于2018年推出了首套穩(wěn)定運(yùn)行的臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射（FEG）電鏡能譜一體機(jī)Phenom LE臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡能譜一體機(jī)，采用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍（FEG），集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析于一體。飛納臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射電鏡操作簡(jiǎn)單，效率高，無(wú)需防震臺(tái)和磁屏蔽，無(wú)樓層要求，只需要一張承重200kg的桌子。

Delphi CLEM熒光掃描電鏡一體機(jī)是荷蘭掃描電鏡制造商 Phenom-World 和荷蘭熒光顯微鏡制造商 Delmic 于 2014 年聯(lián)合推出的將熒光顯微鏡和臺(tái)式電鏡高度整合在一起的設(shè)備。

Phenom GSRqiang擊殘留物臺(tái)式掃描電鏡在qiangzhi犯罪事件中，qiang擊殘留物 GSR 的分析將發(fā)揮重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡 （SEM） 的背散射成像，用來(lái)掃描樣品和發(fā)現(xiàn)可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜識(shí)別在該粒子中的元素。Z常見(jiàn)的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無(wú)鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可Z為搜索條件進(jìn)行搜索。

Phenom Pure 高性價(jià)比標(biāo)準(zhǔn)版電子顯微鏡是一款操作方便、界面友好的臺(tái)式電鏡，用慣光學(xué)顯微鏡的用戶只需稍加培訓(xùn)即可輕松操作這款電鏡。這款電鏡具有掃描電鏡的一切基本功能，可以滿足用戶的大部分成像需求。

Phenom Pro高分辨率專業(yè)版電子顯微鏡是飛納電鏡系列中良好的產(chǎn)品，第五代 Phenom Pro 放大倍數(shù)提升為 150,000 倍，分辨率優(yōu)于 8 nm，30 秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像，是目前世界上分辨率Z高的臺(tái)式掃描電鏡，可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品；

Phenom ProX 是第五代電鏡能譜一體機(jī)，是*的集成化成像分析系統(tǒng)，分辨率提升 20%，進(jìn)一步增加應(yīng)用范圍，更加適用于對(duì)電子束敏感的樣品。借助該系統(tǒng)，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。